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上海EPK MiniTest600便攜測(cè)厚儀

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上海EPK MiniTest600便攜測(cè)厚儀

膜厚儀又名膜厚測(cè)試儀，分為手持式和臺(tái)式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理是，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。

臺(tái)式的熒光X射線膜厚儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值·

中文名

膜厚儀

分類1磁感應(yīng)膜厚儀

分類2電渦流膜厚儀

分類3熒光X射線膜厚儀

原    理電磁感應(yīng)磁性原理

上海EPK MiniTest600便攜測(cè)厚儀

篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國(guó)有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評(píng)價(jià)材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能，推動(dòng)著精良制造技術(shù)的精益求精。

EPK代理MiniTest 600/MiniTest 600-B測(cè)厚儀基本版本沒有統(tǒng)計(jì)功能和外端接口，讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)可以打印，分體式設(shè)計(jì)，測(cè)頭將1米長(zhǎng)的電纜與主機(jī)連接，配備耐磨探頭。具有零板校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)功能，確保測(cè)量的準(zhǔn)確性。是德國(guó)SHOU家獲得德國(guó)計(jì)量局檢定合格的智能涂層測(cè)厚儀，德國(guó)EPK MiniTest 600BF3涂層測(cè)厚儀秉承涂層測(cè)厚儀的測(cè)量準(zhǔn)確、重復(fù)性好、使用簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)。可配接微型打印機(jī)，自動(dòng)打印機(jī)測(cè)厚數(shù)據(jù)。符合標(biāo)準(zhǔn)：（測(cè)量精度：±2%），新系列儀器采用高穩(wěn)定性，可靠性更高。

F型探頭用于鋼鐵上的非磁性涂鍍層，如油漆、塑料、搪瓷、鉻、鋅等。
MiniTest600系列小巧實(shí)用、測(cè)量快速。探頭頂部由非常耐磨的硬質(zhì)材料制成。

應(yīng)用：

用于鋼鐵上的所有非磁性涂層鍍層，如油漆、塑料、搪瓷、鉻、鋅等。還可 用于非鐵金屬（鋁、鋅、銅等）上的所有絕緣涂層，如陽(yáng)極氧化膜、油漆、涂料等

技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量范圍F型0-3000μm  
允許誤差：±（2%~4%讀值+2μm）

測(cè)量精度：1μm。 

zui小曲率半徑：5mm（凸）25mm（凹）  

zui小測(cè)量面積：φ20mm  

zui小基體厚度：0.5mm

顯示：3位數(shù)字（字高11mm）  

可選校準(zhǔn)方式：標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)、一點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn) 

統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)：平均值x、s標(biāo)準(zhǔn)偏差、讀數(shù)個(gè)數(shù)n（zui多9.999個(gè)）、zui大值max、zui小值min  

電源：2節(jié)5號(hào)堿電池，至少測(cè)量1萬次  

儀器尺寸：64mm×115mm×25mm  

測(cè)頭尺寸：φ15mm×62mm  

電源：AC220V±10%50Hz 

MINITEST600有以下三種不同的校準(zhǔn)方式：

①標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)：適合平整光滑的表面和大致的測(cè)量。例如，低于一點(diǎn)校準(zhǔn)精度要求的場(chǎng)合；

②一點(diǎn)校準(zhǔn)：按ZERO鍵，啟動(dòng)零位校準(zhǔn)，顯示屏將顯示ZERO（閃）和MEAN（不閃）字樣，“MEAN”表示顯示的是平均值；將探頭置于無涂層樣板上（即零測(cè)厚），“滴”聲后提起探頭。重復(fù)多次，直到顯示屏始終顯示先前讀數(shù)的平均值；按ZERO鍵，結(jié)束校零，“ZERO”停止閃爍，置零（無涂層 樣板校準(zhǔn)）結(jié)束。此法用于允許誤差不超過4%的場(chǎng)合，探頭誤差范圍應(yīng)另考慮。

③二點(diǎn)校準(zhǔn)：無涂層樣板校準(zhǔn)后，按CAL鍵開始用標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)，顯開啟儀器 校準(zhǔn)儀器  進(jìn)行測(cè)量 關(guān)

閉儀器示器上出現(xiàn)CAL(閃)MEAN（不閃）字樣，將校準(zhǔn)箔置于無涂層樣板上，放上探頭， “滴”聲后再提起探頭重復(fù)多次，直到顯示器顯示的讀數(shù)大致與所選標(biāo)準(zhǔn)箔的厚度相當(dāng)，按上下鍵將讀數(shù)調(diào)節(jié)至標(biāo)準(zhǔn)箔的厚度，按CAL鍵，“CAL”停止閃爍，校準(zhǔn)完畢。此法用于誤差范圍在2%~4%(zui大)之間的測(cè)量，探頭誤差范圍應(yīng)另考慮。 
 2. 開始測(cè)量：測(cè)量時(shí)須握住測(cè)頭上套管，將探頭置于要測(cè)量的涂層上，保持測(cè)頭軸線與被測(cè)面垂直，“滴”聲后提起探頭，讀取讀數(shù)。 3.測(cè)量完畢后，關(guān)閉電源。